Transmissionselektronenmikroskopie für die Materialwissenschaften Das Universitätsnetzwerk

Beschreibung

Erfahren Sie mehr über die Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie in den Materialwissenschaften: Sie werden in der Lage sein, Arbeiten zu verstehen, in denen TEM verwendet wurde, und die notwendigen theoretischen Grundlagen für eine praktische Ausbildung in TEM zu haben.

Dieser Kurs bietet eine umfassende Einführung in die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) im Bereich der Materialwissenschaften. Für ein Instrument, das von einem einzelnen Benutzer bedient wird, bietet das moderne TEM eine Analyseplattform mit unübertroffener Vielseitigkeit, die den Zugriff auf strukturelle und chemische Informationen vom Mikrometer bis zur Subangström-Skala ermöglicht. In einer dünnen, elektronentransparenten Probe kann man die Kristallinität, Kornstruktur, Größe und Defekte sowie die chemische Zusammensetzung messen. Das Kristallgitter kann mit atomarer Auflösung abgebildet werden, wodurch Korngrenzen und Grenzflächen beobachtet werden können. Es ist die einzige direkte Strukturanalysemethode zur Untersuchung von Nanopartikeln.

Mit diesem Kurs erhalten Sie ein tiefes Verständnis des modernen TEM und der Verbindung zwischen:
- die Optik und den Betrieb des Instruments;
- die Physik der Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Materie;
- Einblicke in die Materialeigenschaften der Probe.

Dies gibt den Hintergrund für:
- Ermittlung von TEM-Techniken zur Lösung spezifischer wissenschaftlicher Probleme;
- Interpretation der in Artikeln enthaltenen TEM-Daten; schätzen die Auswirkungen technologischer Fortschritte, die beispielsweise zu einer Auflösung unter Angström durch Aberrationskorrektur geführt haben.
Es kann auch die Grundlage für das anschließende praktische Training dieses bemerkenswerten Instruments sein und ein Sprungbrett für das Erlernen sehr fortschrittlicher Techniken mit magischen Namen wie „Dunkelfeldholographie“ oder „winkelaufgelöste Elektronenenergieverlustspektroskopie“.

Empfohlener Hintergrund:

Grundlagen der Kristallographie und Beugung, College-Optik (Konstruktion von Strahlendiagrammen) sind absolut zwingende Voraussetzungen; Fourieroptik, fortgeschrittenere Kristallographie und Festkörperphysik sind von großem Vorteil.